近日，生物与食品所果蔬贮运加工研究室在高光谱成像技术对梨果实内、外部品质的无损检测研究方面取得了新进展。
        研究发现叶绿素荧光参数如最大荧光（Fm）和光系统II最大量子产量（Fv/Fm）能够有效反映鸭梨的自然黄化衰老过程，可作为预测绿皮鸭梨变黄和衰老的潜在指标。同时，首次利用高光谱成像技术对叶绿素荧光参数进行了预测，并取得了良好的效果。在此基础上，建立了高光谱-叶绿素荧光成像联合应用无损检测鸭梨黄化衰老的方法。相关研究发表在中科院一区Top期刊《Food Research International》（IF：7.0）上。
        此外，基于六个梨品种的1200个样本数据，利用高光谱成像技术结合机器学习成功构建了梨果实品质高精度预测模型，实现梨果实内、外部品质的高效、快速、无损检测。相关研究发表在《Foods》（中科院二区，IF：4.7）期刊上。
        上述研究得到了国家梨产业技术体系、省重点研发计划、院科技创新专项和院基本科研业务费等项目资助。